磁粉探傷機在使用時(shí)標準試片與標準試塊均是判斷磁粉探傷機檢測靈敏度的必備工具，那么試片與試塊有什么共性與區別。

試片在我國現在使用的有A型、C型、D型和M1型四種，均是采用DT4A超高純鐵軋制的薄片制造，有兩種類(lèi)型一種為退火處理的，一種為未經(jīng)退火處理的。退火處理的采用下標阿拉伯數1或空缺標注，沒(méi)有處理的的下標阿拉伯數字2，如A1型、A2型試片，A1型就是指經(jīng)過(guò)退火處理的A型試片。A2型指的是未經(jīng)退火處理的A型試片。

一般如果沒(méi)有特殊要求，磁粉探傷機所使用的試片通常為A型試片為多，如果被測試位置比較小可以采用C型試片進(jìn)行檢測。D型與M1型在檢測工藝要求的情況下采用。

我國現在使用的試塊有E型與B型之分，B型用于直流磁化探傷機用，E型適用于交流磁粉探傷機使用。

下表為磁粉探傷機用試片與試塊的對比分類(lèi)

合理的選用試片或試塊可以檢測磁粉探傷機的檢測靈敏度，是磁粉探傷機不可缺少的校驗工具之一。