現今在磁粉探傷中一般選用高斯計及毫特斯拉計來(lái)檢測磁粉探傷儀或磁粉探傷機、退磁機的退磁效果，那么這類(lèi)檢測退磁的計量?jì)x器它們的原理是什么呢？

我們現在對于工件表面的剩磁要求是低于2GS，對于這么小的數值，需要比較靈敏的元器件來(lái)檢測，在最早是利用霍爾傳感器來(lái)檢測。

其原理是通電的片狀N型半導體的平面與磁場(chǎng)強度為H的磁場(chǎng)相互垂直，后在片狀N型半導體的非通電側形成霍爾電位差UH，其三者之間的關(guān)系為UH=RHμHI/δ，其中δ為半導體板的厚度，RH霍爾系數，μ為磁導率。

利用此原理制成的高斯計及毫特斯拉計測量精度高，測量結構簡(jiǎn)單，可直觀(guān)顯示缺陷磁場(chǎng)的大小和方向。

后期又發(fā)現可以利用磁敏二極管來(lái)代替霍爾傳感器制成精度更高的高斯計及毫特斯拉計。

其原理是磁感應強度在0.1T以下時(shí)，磁敏二極管輸出特性曲線(xiàn)近似線(xiàn)性關(guān)系，其性能相當于普通二極管的PN結特性。

利用此原理制成的高斯計及毫特斯拉計測量精度更高，測量結構簡(jiǎn)單。

以上就是磁粉探傷中一般選用高斯計及毫特斯拉計來(lái)檢測磁粉探傷儀或磁粉探傷機、退磁機的退磁效果的原因。

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